наведенный
111растровый электронный микроскоп (РЭМ) — [scanning electron microscope (SEM)] микроскоп, в котором изображение формируется при сканировании (развертывании), т. е. последовательном от точки к точке перемещении тонкого электронного луча (зонда) по поверхности массивного образца. Первые… …
112индуцированный — Syn: наведенный …
113МИКРОФОТОГРАФИЯ — МИКРОФОТОГРАФИЯ, получение при помощи светописи изображений микроскоп. объектов, обыкновенно наблюдаемых субъективно через окуляр микроскопа. Основные достоинствам., это точность и объективность даваемых ею изображений, сравнительная быстрота и… …
114наведённый — (неправильно наведенный) …
Словарь трудностей произношения и ударения в современном русском языке
115электронно-зондовый микроанализ — Electron Probe Microanalysis (EPMA) Электронно зондовый микроанализ Физические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью… …
116electron probe microanalysis — Electron Probe Microanalysis (EPMA) Электронно зондовый микроанализ Физические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью… …
117défaut induit — sukeltasis gedimas statusas T sritis automatika atitikmenys: angl. induced failure vok. induzierter Fehler, m rus. наведенный отказ, m pranc. défaut induit, m; défaut suggéré, m …
118défaut suggéré — sukeltasis gedimas statusas T sritis automatika atitikmenys: angl. induced failure vok. induzierter Fehler, m rus. наведенный отказ, m pranc. défaut induit, m; défaut suggéré, m …
119induced failure — sukeltasis gedimas statusas T sritis automatika atitikmenys: angl. induced failure vok. induzierter Fehler, m rus. наведенный отказ, m pranc. défaut induit, m; défaut suggéré, m …
120induzierter Fehler — sukeltasis gedimas statusas T sritis automatika atitikmenys: angl. induced failure vok. induzierter Fehler, m rus. наведенный отказ, m pranc. défaut induit, m; défaut suggéré, m …